新闻
LAB ID与DELO合作进行RFID标签的芯片粘合和电接触
09/07
为了应对这一挑战,意大利RFID标签和解决方案供应商LAB ID与德国工业粘合剂公司 DELO合作。
金融IC卡芯片安全测试之半侵入式篇
12/10
半侵入式攻击是指攻击者从卡片正面或背面去除芯片封装,暴露芯片硅衬底或者顶层金属层,但不需要对内部电路进行电接触,在暴露芯片表面之后,结合其他攻击手段获取保存在芯片内部的敏感信息,比如密钥、存储器内容等。
首页
新闻
产品
方案