8月18日，为期三天的2016深圳物联网展在深圳会展中心召开，奥地利CISC半导体在本次展会上亮相，展出了其最新的符合RAIN RFID标准的Xplorer UHF RFID读写器测试仪及标签仿真器，不论在读写器性能层面还是在协议物理层面都能给出中肯而准确的测试结果，获得了广大客户的好评。

CISC Semiconductor基于最新RAIN RFID读写器性能测试流程的首款 CISC RFID Xplorer – Reader Tester 现已上市。