本文主要研究RFID标签的防克隆技术，基于混沌离散序列具有良好的不可预测性、对初始条件极端敏感性以及良好的伪随机等特性，使用Logistic映射生成随机数，通过每次扫描时更新的随机数来辨别克隆攻击是否存在。最后结合生活中可能出现的所有情况分析该方法的实用性。

NXP日前推出新一代SmartMX2 P60 Step-Up!，具备一些如物理不可克隆功能(PUF)的防克隆技术的新安全功能，适用于支付和电子政务服务。

由麻省理工学院研究人员成立的硅谷新公司 Verayo开始提供其商业版的防克隆技术产品，以解决 RFID安全问题。