日前，北京中科泛华测控技术有限公司（以下简称"泛华测控")研发设计了传感器测试系列的又一新品——智能角位移传感器测试系统。该系统是泛华测控继"智能直线位移传感器标定与测试平台"之后、在智能位移传感器领域的又一力作。

由北京中科泛华测控技术有限公司DAQ事业部携手美国国家仪器中国有限公司(NI)共同举办的 “快速构建高效完整的数据采集系统”全国巡回研讨会将陆续在上海、武汉、沈阳、哈尔滨、青岛等全国十六个城市展开。