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Omrom开发出新型UHF天线 可消除多路影响
作者:RFID世界网 Susan Zheng
时间:2007-03-04 11:43:28
欧姆龙昨日发布声明,称其已开发出一种新的UHF天线技术,可以通过控制读写器所发出电磁场信号的方向来大幅提高UHF阅读器的读取性能,提高读取标签距离和消除读取范围内的“盲区”。

欧姆龙昨日发布声明,称已开发出一种新的UHF天线技术,可以通过控制读写器所发出电磁场信号的方向来大幅提高UHF阅读器的读取性能,提高读取标签距离和消除读取范围内的“盲区”。

UHF频段因为快速的标签通讯速率和较远的读取距离而具有广泛的应用潜力,然而,在实际应用中,UHF的“多路影响”效应常常抑制了系统的性能。所谓“多路影响”效应是由于读写器发射出来的电磁波在经过周围环境物品的反射后叠加在目标信号上形成干扰,这会使减弱最终到达标签上的有效电磁波信号。

为了解决这个问题,OMRON开发了一种新型 的天线技术,可以直接控制读写器发射出来的电磁波束的方向,这样就可以避开环境或阻挡物的影响,以达到最好的效果。同时该天线还可以有效地消除传统天线在工作磁场区内会形成磁场盲区的问题。

OMRON 计划在各种不同的实际应用场合中测试该新型天线,并在2006财政年度的后期将该技术应用到RFID UHF读写器中。

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