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Georgia技术学院发布可同时测试多标签的RFID新系统
作者:庄表微
时间:2010-09-20 08:05:32
研究人员已经设计成功一种新的系统,可以同时测量数百个RFID标签和快速测试新的RFID标签原型。

    研究人员已经设计成功一种新的系统,可以同时测量数百个RFID标签和快速测试新的RFID标签原型。

  Georgia技术学院的助教 Gregory Durgin说:“这个测试系统可以测量被其它标签覆盖的标签的信号强度,虚拟快速测试各种天线配置和多重天线,从而节省试验标签的组装时间。”

  这项研究得到美国国家科学基金会的资助,项目主持人是学院的毕业研究生Anil Rohatgi和在读研究生Joshua Griffin,研究论文今年4月在IEEE国际年会RFID专题会议上面宣读。

  RFID标签应用广泛,如库存管理、货品跟踪、票务处理、证件识别、航空行李安保等。无源标签的组成主要有集成电路,用于储存和处理数据;天线用于应答来自RFID读取器的射频电波。无源标签会吸收部分来自读取器的射频电波能量,将其转换为反射信号,反射信号内部包含有来自标签储存器的信息。这种技术效果称作反向散射。

  如果有数个RFID标签位于读取器附近,读取器会首选和信号最强的标签进行通信,然后使其休眠防止重复通信。接着读取器与信号较强的标签进行通信……,整个过程会花费不少时间。

  Durgin说:“我们设计的系统实际是费用较低的防冲突系统,接收的是多重独特的信号,从而避免不断重复的操作过程。”

  系统由三个部分组成:发射器、接收器、仿真器。仿真器模拟集成电路的功能。发射器发射电波到天线。仿真器与天线连接,所以接收器得到的是每个标签的独特的频谱信号带。

  这样每一个天线发射的信号都各不相同,所以系统可以同时测量各个标签发射的信号的强度。采用这样的方法试验小组可以同时测量多达256个天线的信号强度和方位,大约分布在读取器周围20英尺x 20英尺范围。

  他补充说:“如果需要测试新的工作频率和信号,我们只需改变仿真器信号即可。如果通过制作新的芯片,就会花费10万美元的成本。另外我们还可以为用户提供各种天线配置的仿真模拟试验,与原先的方法比较时间和费用都是成倍降低。”

  各种天线配置的测试至关重要,因为RFID的可读性和天线的功能与标签天线以及读取器的相对位置和方向密切相关。

  这次研究人员设计的测试系统工作频率为915 MHz,是常用的超高频无源RFID工作频率。目前他们还在进一步扩大系统的工作频率,现在他们已经可以测试5.7 GHz工作频率的天线。

  他说:“工作频率更高时,虽然标签固定不变,天线的信号则由于电磁效应可以更加容易穿越障碍物,从而达到更好的工作效果。另外,更高的工作频率可以缩小天线的尺寸,也就是说一个标签上面可以放置更多天线,产生更多的通信能量。通常标签与读取器的距离在1英尺左右,工作频率提高以后,RFID标签的读取距离和读取可靠性都会大大改善。”

  他补充说:“这个测试系统是我们对各种RFID标签天线评估的开始。随着工作频率的不断提升,必定导致读取距离加大和读取可靠性提高。”

 

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