半导体测试设备供应商惠瑞捷 (Verigy) （Advantest Group 爱德万集团（东京证交所：6857，纽约证交所：ATE）子公司）今天宣布ISE Labs 在加州费利蒙、德州奥斯汀的测试封装厂引进V93000 Smart Scale™ 数位量测模组以及Pin Scale测试机种之测试设备，进一步扩展双方对于测试开发服务的合作关系。

　　双方长远结盟关系的最新计画即为ISE Labs 奥斯汀厂将开始采用惠瑞捷的Pin Scale 技术开发先进的测试方法，针对最新一代低功耗安谋（ARM）架构伺服器处理器，搭配高速DDR3记忆模组、PCI Express 介面、消费性IC 如智慧媒体芯片内建系统(SOC) 设备，应用于下一代的媒体闸道器与机上盒。为达成上述目标， ISE Labs 奥斯汀厂安装L 级测试头的V93000 Pin Scale 测试机台，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及800 数位量测模组下，具备超过900 个数位信号脚位供测试。

　　此外，硅谷最大的半导体测试实验室— ISE Labs 费利蒙厂，亦引进了两台配备Pin Scale 1600数位量测模组的V93000 Smart Scale 测试机，用以测试客户量产的IC。其中一套系统使用Pin Scale 1600 以及9G 数位量测模组，有超过1, 000 个脚位的C 级测试头；另一个系统则配备惠瑞捷最小的A 级测试头，配有512 个数位量测脚位以及MB-AV8 PLUS 类比信号量测模组。两套系统均可扩充升级，提供增加数位量测脚数，或新增测量资源，如惠瑞捷的Port Scale 射频解决方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技术，是硅谷测试服务供应商中的首创之举。

　　ISE Labs工程与测试服务副总裁Rabbi-ul Islam 表示：「我们对于与惠瑞捷的长期合作关系，一直感到相当满意，也很高兴能够在奥斯汀技术中心开始实施其经认证的Pin Scale 技术。」

　　惠瑞捷北美销售暨支援部门副总裁Sanjeev Mohan 强调：「能获得ISE Labs 青睐，将新一代Smart Scale 系统运用于技术开发以及商业测试服务，对我们来说是一件令人振奋的消息。V93000 per-pin的弹性建置让我们在各项测试应用都能达到业界领先的水准。」

　　惠瑞捷的可扩展Smart Scale 测试系统以及数位信号量测模组，展现最具经济效益的先进半导体设计测试，包括28nm 技术节点及以下的3D 堆叠与IC设计。

　　Pin Scale 1600 数位量测模组在测试灵活性方面开拓一个崭新领域。此模组的万用per-pin 架构，让每个通道在测试下都能够发挥各种装置所需的功能，带来最大的灵活性。 Per-pin功能包括独立时脉网域、高精准度的直流电与业界领先的数位效能，都可以透过Pin Scale 1600 进行强化。

　　惠瑞捷的Pin Scale 9G 针脚量测模组是唯一完全整合、高速、数位化且能够涵盖自直流到超过每秒8Gb，符合成本的高速测试制具。高度多样化的Pin Scale 9G 针脚量测模组可测试包括平行或序列式、单点或多点、单向或双向的介面。