奥地利设计和咨询服务公司CISC半导体宣布更新其CISC RFID Xplorer系统，以增强对超高频(UHF)射频识别标签的性能测试。

　　Xplorer测试系统于2012年4月首次公布，采用便携式设计，是一套结构紧凑的解决方案。公司称，这还是一套低成本的RFID标签灵敏度测试系统，小而强，可对通信距离和后向散射进行精确测量。

　　新版本的名称为Xplorer 200，扩展了对内存读写和加密码套件的测试，完全支持EPCglobal和ISO / IEC标准。

　　Xplorer 200将在RFID Journal LIVE! Brasil(11月6-7日，圣保罗)上亮相，特别针对了巴西RFID测试标准定制开发，如SINIAV, ARTESP和Brasil ID。

　　公司称，Xplorer可以用来衡量单个的标签性能，也可以同时进行多个标签的完整分析。

　　CISC RFID Xplorer的外形大小仅为160*205*50毫米(6.3*8.1*2英寸)，方便携带、拆卸和安装，可以在几分钟之内操作完成。

　　设备的工作在800 MHz到1 GHz的频率范围，RFID世界网加上一台匹配的计算机来运行Xplorer软件，对每个频率的占用时间小于1秒，测试速度快。

　　在读写器的性能和一致性测试过程中，信号实时传输没有记录时间限制。

　　Xplorer是专为户外测试开发，可以是便携式或固定式的RF试验室或RF控制环境的测量解决方案。

　　该系统提供了软件和自校准参考标签。

　　测试设备使用的图形用户界面(GUI)控制，带有一个额外的应用程序编程接口(API)，在标准的开发环境下，用户可自定义测试序列。(RFID世界网编译)

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