超高频(UHF)RFID标签制造商Tageos宣布在奥本大学RFID实验室完成ARC项目产品测试。该公司表示，其EOS-400产品通过了零售环境相关的所有11项用例测试。

　　奥本大学RFID实验室是一家研究机构，专注于零售，航空航天和制造业的技术实施，同时和零售商，供应商和技术提供商合作，提供性能及质量测试。ARC项目为RFID性能提供了全局基准，许多支持RFID的零售商和主要RFID标签制造商都使用了该标准。

　　Tageos的独特制造工艺消除了蚀刻RFID产品中塑料载体层的需要，从而简化了制造。与传统的RFID标签相比，该工艺可减少50%的胶水和塑料的需求。公司称，ARC测试结果显示，该工艺对性能无任何影响。

　　Tageos首席执行官Matthieu Picon在一份准备好的声明中说：“通过所有11项ARC测试是Tageos的一大成就。”这样，零售商及供应商便可放心地使用Tageos RFID产品，享受产品的创新，成本好处。

　　（rfid世界网独家稿件，转载请注明来源作者！）