IOTE2022经过几次艰难的delay之后，终于于11月15日-17日在深圳国际会展中心17号馆成功举办。深圳市唐领科技有限公司作为深圳物联网产业协会作为协会创始会员当然也不会错过此次盛会，唐领一如既往的展出了CISC传统的RAIN RFID测试仪、NFC测试仪及RAIN RFID Inline设备，也推出了用于快速检测读写设备的CISC新品Reader checker以最低的成本让读写器制造商了解其产品灵敏度，让系统集成商迅速找出问题所在。

本次展会还有一大特点就是国产RFID标签和读写器芯片厂商的新产品层出不穷，大大加快了RFID领域芯片国产化的步伐。跟随着这个步伐，唐领携CISC的产品也为RFID芯片设计厂商提供了有效而完整的芯片测试方案RAIN RFID Xplorer。

标签芯片测试方案

CISC的RAIN RFID Xplorer在芯片测试这块涵盖了灵敏度和协议层的测试。灵敏度测试可根据需求进行接触（无天线）及非接触（带天线）的测量方法，让芯片设计厂商更了解自己的产品在不同条件下的特性。RAIN RFID Xplorer独具特色的参数设置是更多芯片厂商真正所需要的，如调制、时序、指令等的设置，这些设置都是在验证芯片在不同条件下的性能特点，可以进一步完善芯片的设计，同时自定义指令及序列有助于调试特殊的协议规范标签芯片性能。

对于协议层面的符合规范测试，RAIN RFID Xplorer提供了两个选择，一个作为单点调试的Conformance软件，他可以分析每个标签指令或相应的内容、时序、功率、BLF及占空比等物理特性。

另一个是自动化G2V2规范测试软件涵盖了G2V2里规定的所有测试项目，生成测试报告，能迅速的让标签芯片厂商评估其产品与G2V2的符合度，如有不符合的项目可用conformance测试软件进行深入调试和研究。

对于标签芯片的性能及规范测试，RAIN RFID Xplorer可以称得上是业内最完整最紧凑的测试方案。

读写器芯片测试方案

同样是RAIN RFID Xplorer还可以进行读写器芯片的灵敏度及规范验证。作为读写器芯片灵敏度的稳定性是非常的重要，Xplorer可以用接触式的标签仿真模块来检测来自读写器芯片评估板的信号，同时通过Tx、BLF的变化观测灵敏度的变化，并可模拟天线的相位和阻抗变化来了解芯片灵敏度的匹配度。标签仿真模块还可以设置不同的配置，如接收Tari、RTcal，响应T1、BLF offset等，更大程度模拟不同的标签特点。

当然读写器芯片当然也少不了协议符合度的测试，同样遵循G2V2的需要RAIN RFID Xplorer设计了一个自动化的读写器协议符合度测试软件，自动对Link时序、RF包络和物理性能进行测试比对。获取pass、failed的信息后，可通过Sniffer分析软件对读写器协议及规范进行详细的参数分析，从而改善相关的设计问题。

无论RFID标签还是读写器其核心均在芯片，CISC在支持Impinj、NXP、ST等国际芯片大厂的芯片设计验证的同时，也希望为中国国产芯片的崛起添砖加瓦，让国产RFID芯片在测试和验证之路上走的更加顺畅。当然CISC近年产品也是推陈出新，紧跟潮流推出NFC无线充电方案、现场RFID分析工具等创新产品，让IOT领域应用眼前一亮。