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第二届CJK会议在日本庆应大学举行
作者:Auto-ID中国实验室
时间:2007-03-04 11:43:36
在本次日本CJK会议上,与以往不同的是,除了实验室的主任和研究人员参加以外,来自三个实验室的超过15名博士和硕士研究生也参加了会议并对自己的研究工作做了详细的介绍。本次会议涉及的研究领域包括RFID硬件,RFID应用和传感器网络等等。
  第二届CJK(中日韩)会议于2006年3月30日至31日在日本庆应大学湘南县校区举行。CJK会议是由Auto-ID中国实验室主任闵昊教授、Auto-ID日本实验室主任村井纯教授、Auto-ID韩国实验室Sang-Gug Lee教授发起的一项旨在推动三个Auto-ID实验室学术和技术交流的活动。CJK会议每4个月举行一次,分别在三个国家轮流举办。第一届CJK会议于去年11月10~11日在复旦大学举行。

     在本次日本CJK会议上,与以往不同的是,除了实验室的主任和研究人员参加以外,来自三个实验室的超过15名博士和硕士研究生也参加了会议并对自己的研究工作做了详细的介绍。本次会议涉及的研究领域包括RFID硬件,RFID应用和传感器网络等等。与会代表就各个研究课题纷纷发表自己的见解,并进行了广泛的交流与讨论。剑桥大学Auto-ID实验室主任Duncan McFarlane出席了为期两天的会议,并就RFID在航空部件管理方面的应用做了介绍。

 

   会后,中日韩3个Auto-ID实验室主任签署了一份谅解备忘录。根据该备忘录,三个实验室确定将定期召开学术会议,交换学生和研究人员,针对共同感兴趣的合作课题进行联合研究,尊重并保护各自的知识产权。下一届CJK会议将于2006年7月在韩国信息与通信大学(ICU)举行。

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