近年来，RFID及其相关技术逐渐成为全球热点话题。从制造商到消费者，任何人都不能忽略中国这个拥有巨大发展潜力的市场。在此发展背景下，第三届RFID（国际）学术会议（The 3rd RFID Academic Convocation ）定于今年10月29日、30日在北京举行。会议以“RFID与自动识别在中国”为主题，议题范围涵盖了RFID技术、传感技术、硬件软件技术、生命与健康科学、国际化供应链以及端到端产品生命周期管理等在中国的发展增长空间及未来发展趋势。

本次学术会议邀请了全球业内著名学者及研究人员参加，会议期间将开展围绕中国RFID及自动识别技术发展等议题的专家演讲和举行圆桌会议等活动。

学术会议将就RFID与自动识别技术为纲要征集会议论文。学术会议采用的论文将有选择性的发表在自动化学报（ACTA AUTOMATICA SINICA）上，希望专业人士踊跃投稿。

论文稿件时间安排：

2006年8月30日   提交论文稿件（要求完整）

2006年9月30日   通知论文采用情况

2006年10月20日   提交论文终稿

来稿请寄：

大会秘书处 刘禹

中国科学院自动化研究所

北京市海淀区中关村东路95号

邮编：100080

附1：本次学术会议主席及委员会成员名单

会议联合主席：

Bill Hardgrave
University of Arkansas, USA

Stephen Miles
Massachusetts Institute of Technology,USA

Dimitris Kiritsis
Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne , Switzerland

John Williams
Massachusetts Institute of Technology,USA

学术会议委员会成员：(按字母顺序排序)

David W.L. Cheung
University of Hong Kong, China

Dieter Uckelmann
University of Brement, Germany

Duncan McFarlane
Cambridge University, UK

Elgar Fleisch
St. Gallen and ETH Zurich, Switzerland

Gisele Bennett
Georgia Tech Research Institute, USA

Gregory McCarthy
North Dakota State University, USA

Hao Min
Fudan University, China

Jean-Pierre Emond
University of Florida, USA

Jun Murai
Keio University, Japan

Kaveh Pahlavan
Worcester Polytechnic Institute, USA

Mark Roberti
RFID Journal, USA

Marlin Mickle
University of Pittsburg, USA

Peter H. Cole
University of Adelaide, Australia

Quingue Ling
Oregon State University, USA

Sang-Gug Lee
Information  and Communications University, Korea

Tom Pain
University of Pittsburg, USA

Yu Liu
Institute of  Automation, Chinese Academy of Sciences, China

附2：本次学术会议举办方名单

麻省理工学院自动识别实验室（Auto-ID Labs at MIT）

中科院自动化所RFID实验室（RFID Lab at Institute of Automation, CAS）

复旦大学自动识别实验室（Auto-ID Labs at Fudan University）