唐领科技所承诺提供最好的产品给客户，在今年初我们为不断变化的RFID市场推出了了CISC RFID Xplorer – one hardware for all RFID testing 。一个独立的Xplorer硬件即可测量标签性能(Xplorer tag performance tester)，也可以测量读写器灵敏度(Xplorer reader tester)，并且这个装置(Xplorer Sniffer and Tag Emulator)能分析标签和读写器之间的射频通信。另外同样的硬件也可以用来对标签和读写器所要求的协议做预规范性测试(Xplorer conformance tester)。

　　在最近的更新我们在Xplorer里加入了令人振奋的新功能，用于RAIN RFID、EPC Gen2V2和ISO/IEC 18000-63标签、读写器及应用测试。如：

　　Field recorder(场强记录仪)

　　这个场强记录功能测量有效的RF场，并能确认在特定的应用环境中标签是否能被识别。因此，它可以测量随时间变化的场强，从而了解运动中物体是否改变了反射导致更低或更高的RF场，这是导致漏标签或不期望的读的典型原因。

　　Interference Analyzer (干扰分析仪)

　　干扰分析仪在800MHz到1GHz频率范围内提供了干扰分析功能。用户在测试标签和读写器前，可用它进行快速测量来了解在哪些频率范围内有RF干扰。当在一个非受控RF测试环境中(即没用电波暗室)，用CISC RFID Xplorer测量RFID读写器和标签性能时，这个工具也可以用来验证环境噪音干扰等级。干扰分析仪也可以展现其他读写器的状况，帮助系统集成商进行系统故障排查。

　　Advanced Sniffer and Protocol Analysis(先进的监听器及协议分析)

　　这个功能让用户更深层次的分析通信，这个工具为用户提供了RFID通信图形化分析，如随时间变化的Q值开发或标签响应时间图。通过这个工具，用户可以清楚的了解在这个环境中哪个标签不回复。完整的综合通信日志列出所有的指令和响应用于更详细的分析。

　　在Xplorer标签仿真器中使用多标签仿真模式，它能看到在10000个不同的标签(EPC、UII)的读写器和应用的反应。

　　更多详细信息请联系深圳市唐领科技有限公司，www.te-lead.com。