8月16日，2017第12届RFID世界应用创新大会在深圳会展中心隆重举办。本次大会共邀请了300余家RFID行业产业链各环节的优秀企业、行业权威专家、RFID终端用户代表共同参与，剖析行业发展方向，共同探索行业发展新模式。在本次大会上，全球领先的RFID电子标签测试方案商Voyantic亚太区总监彭建宾(Smoos Peng)先生以《RFID标签生产质量管理最新技术》为题，进行了精彩分享。
Voyantic亚太区总监彭建宾(Smoos Peng)先生
彭总表示，RFID电子标签从07年到17年有了很大的变化，虽然标签的性能已大幅改善，但是在实际的应用中还是存在各种问题。彭总就电子标签应用时的特性和现象进行了介绍。
标签特性之一: 空中和实际应用性能(读取距离/启动功率)的差异
彭总表示，相同的标签(UHF或HF)在空中读写的距离和依附在各种材料时的实际读取距离存在很大的差距。像符合我国频段的UHF标签，在空中的读取距离为7米，经过测试应用到书本上的读取距离为3.5米，应用到玻璃上的读取距离只为1.5米。另外，就是标签启动功率越小读距就越长。
标签特性之二: 标签与标签间的互感影响性能(读取距离/启动功率)
在会议演讲中，彭总指出，标签与标签放在一起也会影响标签的读取。在不受干扰的情况下，符合我国频段的UHF标签，理想读取距离是7米，如果在该标签1cm的旁边放置一款同样的标签，读取距离只为4米，在其前方放置的话，读取距离变成了3米。
标签特性之三: 标签质量差异
彭总表示，即使是同一款标签，在生产过程中也会受到很多因素的影响，因此成品标签的质量就会参差不齐，通过标签性能的测试，可以很快的分辨出哪些是好的标签、哪些是不好的，哪些是优异的标签。
在此之前，标签的测试，主要采用传统的测试方法，比如UHF超高频读写器产线检测、HF高频读写器/VNA网分产线检测。彭总指出UHF超高频读写器产线检测在今天具有很大局限性，检测功能基本上是局限在GO 与NO GO的测试，换句话说，就是只能检测RFID芯片是否和天线已连接好，但无法精准的筛选掉性能(质量)不佳Weak/Poor Quality的电子标签。另外，测试结果缺乏标签性能相关数据，无从改善制程和制订质量标准，难以满足客户对质量的要求。
HF高频读写器/VNA网分产线检测也有自己的瓶颈。HF读写器频率固定在13.56MHz，一般标签的工作频率都高于13.56MHz，因此，质量不佳标签不易挑出。测试结果缺乏标签性能相关数据，也就是标签工作频率和启动功率关系。
使用VNA网分被动式谐振频率测试时，VNA网分并未发送指令至待测标签，即使测得标签谐振频率，但这并不保证标签是可正常运作。此外，被动式检测方式并无法测出高频标签的启动功率，不利于标签的评价和测试结果的分析。
另外，彭总指出，产品的质量问题会造成内部失效成本和外部失效成本的增加，想要减低整体成本可以增加预防成本和鉴定成本，比如投资标签研发测量设备(实验室)、Inlay进料检验设备、标签产线质量检测设备、出货检验设备。Voyantic就为客户提供先进的RFID标签生产质量管理技术。
然后，彭总为现场观众介绍了该公司的Tagsurance 点测试 Point Test、Tagsurance 灵敏度测试 Sensitivity Measurement、近场偶合天线 Snoop Pro等测试系统。
Tagsurance 点测试 Point Test在超高频800-1100MHz或是高频10-30MHz宽频范围内，设定测试点_X轴为频率，Y轴为标签启动功率。每一测试点所需时间: 超高频UHF: 5ms高频HF: 8~20ms(依测试协议不同)。
Tagsurance 灵敏度测试 Sensitivity Measurement在800-1100MHz(UHF)、10-30MHz(HF)宽带范围内，设定监控频率、输出功率范围、标签检测标准。每一监控频率点所需测试时间和输出功率范围有关: UHF: 20ms~40ms，HF: 55ms~108ms (ISO 14443-A)。搭配Read TID (UID)，可完整收集量产标签性能讯息。也能实现标签的即时质量监控。
彭总还对离线测试机、弯曲压力测试机进行了介绍。
据悉，芬兰Voyantic公司提供完整超高频和高频的RFID测量解决方案，涵盖了产品研发、产线质量管控、应用场景测试、认证、科研和RFID全周期测量能力，为用户提供RFID一站式解决方案。Voyantic公司的Tagformance标签性能检测系统更是业界标准的RFID性能测量设备，广泛应用于世界各地顶尖的标签制造商、标签设计商、系统集成商、科研院所以及测试中心。 Voyantic公司客户遍及全球五大洲超过30个国家，如有任何标签生产质量检测相关问题，请联系Smoos先生，以下是他的联系信息。
